因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項(xiàng)目

晶格常數(shù)測定：通過測量衍射角計(jì)算晶格參數(shù)，確定晶體單元 cell 的尺寸和形狀，用于表征材料的晶體結(jié)構(gòu)基本特性。

物相分析：基于衍射圖譜比對識別材料中的不同晶體相，鑒定物相組成和分布，支持材料分類和質(zhì)量控制。

晶體取向測定：分析晶體在材料中的取向分布和織構(gòu)，評估各向異性行為，適用于加工工藝優(yōu)化。

殘余應(yīng)力測量：通過衍射峰位移評估材料內(nèi)部應(yīng)力狀態(tài)，檢測加工或使用過程中產(chǎn)生的應(yīng)力集中。

晶體尺寸分析：從衍射峰寬化估計(jì)晶粒大小和分布，用于評估材料的微觀結(jié)構(gòu)和性能相關(guān)性。

晶體缺陷檢測：識別位錯、堆垛 faults 等缺陷類型，分析晶體完整性對材料力學(xué)性能的影響。

定量相分析：確定材料中各晶體相的含量比例，通過衍射強(qiáng)度計(jì)算實(shí)現(xiàn)組成定量化。

晶體結(jié)構(gòu)精修：使用 Rietveld 方法 refine 晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)，優(yōu)化原子位置和占位率，提高結(jié)構(gòu)模型精度。

高溫衍射分析：在變溫條件下研究晶體結(jié)構(gòu)相變和行為，監(jiān)測熱誘導(dǎo)變化和穩(wěn)定性。

薄膜厚度測量：通過衍射技術(shù)分析 thin films 的晶體結(jié)構(gòu)和厚度，適用于半導(dǎo)體和涂層材料評估。

檢測范圍

金屬材料：包括鋼、鋁合金等，用于分析相變、微觀結(jié)構(gòu)和力學(xué)性能相關(guān)性。

陶瓷材料：如氧化鋁、碳化硅，評估晶體結(jié)構(gòu)、相組成和高溫性能表現(xiàn)。

半導(dǎo)體材料：硅、砷化鎵等，用于晶格匹配、缺陷分析和電子特性研究。

聚合物晶體：研究結(jié)晶度、晶體形態(tài)和分子排列，支持聚合物材料優(yōu)化。

礦物樣品：地質(zhì)學(xué)中礦物鑒定和結(jié)構(gòu)分析，用于資源勘探和成分確定。

納米材料：分析納米顆粒的晶體結(jié)構(gòu)和尺寸效應(yīng)，評估納米尺度特性。

生物材料：如蛋白質(zhì)晶體，用于結(jié)構(gòu)生物學(xué)中的分子結(jié)構(gòu)解析和功能研究。

復(fù)合材料：界面相和增強(qiáng)相的分析，評估多相材料的協(xié)同性能和失效機(jī)制。

電子材料：鐵電體、超導(dǎo)體等，研究晶體結(jié)構(gòu)與電學(xué)性能的關(guān)聯(lián)性。

催化劑材料：表面結(jié)構(gòu)、活性位點(diǎn)分析，支持催化活性和穩(wěn)定性評估。

檢測標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E975-2020：Standard Practice for X-Ray Determination of Retained Austenite in Steel，用于鋼中殘余奧氏體含量的X射線衍射測定方法。

ISO 20203:2006：X-ray diffraction method for determination of carbon in coke，焦炭中碳含量的X射線衍射分析方法。

GB/T 13221-2009：微晶X射線衍射法測定納米粉末晶體尺寸，納米材料晶體尺寸的標(biāo)準(zhǔn)測試方法。

ASTM D5380-2021：Standard Test Method for Identification of Crystalline Pigments and Extenders in Paint by X-Ray Diffraction，涂料中晶體顏料和填料的X射線衍射鑒定。

ISO 17974:2002：Surface chemical analysis — High-resolution Auger electron spectrometers — Calibration of energy scales for use in spectroscopy，涉及電子衍射能譜校準(zhǔn)。

GB/T 23413-2021：納米粉體晶體尺寸測定 X射線衍射線寬法，用于納米粉體晶體尺寸的X射線衍射評估。

檢測儀器

X射線衍射儀：產(chǎn)生和檢測X射線衍射圖案，用于晶體結(jié)構(gòu)分析、物相鑒定和晶格參數(shù)測量，是本檢測的核心設(shè)備。

電子衍射儀：集成于透射電子顯微鏡中，提供高分辨率晶體結(jié)構(gòu)信息，用于納米材料和薄樣品的分析。

中子衍射儀：利用中子束進(jìn)行衍射實(shí)驗(yàn)，研究磁性材料和輕元素晶體結(jié)構(gòu)，適用于特殊材料表征。

同步輻射光源裝置：提供高強(qiáng)度X射線束，用于高分辨率衍射和原位實(shí)驗(yàn)，支持復(fù)雜晶體結(jié)構(gòu)研究。

粉末衍射儀：專門設(shè)計(jì)用于粉末樣品的X射線衍射分析，實(shí)現(xiàn)快速物相識別和定量測量

檢測報告作用

銷售報告：出具正規(guī)第三方檢測報告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進(jìn)的測試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測周期短，同時所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性高;工業(yè)問題診斷：較約定時間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。