因業(yè)務調(diào)整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

暗電流測量：通過高靈敏度電流計在完全黑暗環(huán)境中測量SPAD的漏電流值，評估器件在無光條件下的基礎噪聲水平，確保低暗電流特性以滿足高精度光電探測應用的需求。

暗計數(shù)率測試：統(tǒng)計單位時間內(nèi)SPAD在黑暗中的隨機觸發(fā)事件次數(shù)，分析暗計數(shù)率與偏置電壓的關系，為器件在單光子探測中的信噪比優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。

后脈沖概率評估：檢測SPAD在雪崩事件后因載流子陷阱導致的額外觸發(fā)概率，通過時間相關單光子計數(shù)技術量化后脈沖影響，確保器件在高速探測中的準確性。

時間抖動分析：測量SPAD從光子入射到雪崩信號輸出之間的時間波動范圍，評估器件的時間分辨率性能，適用于激光雷達等對時序精度要求高的領域。

溫度依賴性測試：在不同溫度條件下監(jiān)測暗電流和暗計數(shù)率的變化趨勢，確定SPAD的熱穩(wěn)定性系數(shù)，為器件在寬溫環(huán)境下的應用提供可靠性依據(jù)。

偏置電壓優(yōu)化：通過掃描偏置電壓范圍找出SPAD的最佳工作點，平衡暗電流和光子探測效率，實現(xiàn)器件性能的最大化配置。

死區(qū)時間測量：評估SPAD在雪崩事件后無法響應新光子的時間間隔，確保死區(qū)時間與探測頻率匹配，避免在高計數(shù)率應用中出現(xiàn)信號丟失。

光子探測效率校準：在特定波長下測量SPAD對單光子的響應概率，結合標準光源進行校準，驗證器件在量子通信等場景的探測靈敏度。

串擾評估：針對SPAD陣列中相鄰像素間的電氣干擾進行測試，量化串擾概率以防止誤計數(shù)，提升陣列器件的整體性能一致性。

長期穩(wěn)定性測試：在連續(xù)工作條件下監(jiān)測SPAD暗電流和計數(shù)率的漂移情況，評估器件的壽命和可靠性，為實際應用提供耐久性數(shù)據(jù)。

檢測范圍

單光子雪崩二極管：用于極弱光探測的核心半導體器件，其暗電流特性直接影響信噪比，檢測范圍涵蓋硅基和InGaAs等材料的SPAD單元。

SPAD陣列探測器：由多個SPAD像素集成的成像器件，適用于熒光顯微鏡和量子成像，需評估整體暗電流均勻性和像素間一致性。

近紅外SPAD器件：工作波長在近紅外波段的光電探測器，用于生物醫(yī)學成像，暗電流檢測需考慮波長相關性的噪聲特性。

蓋革模式APD模塊：工作在蓋革模式的雪崩光電二極管模塊，用于激光測距，檢測重點包括暗計數(shù)率與溫度穩(wěn)定性關系。

量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)接收端：量子通信中接收單光子信號的組件，暗電流檢測確保低誤碼率，提升系統(tǒng)安全性和傳輸距離。

激光雷達探測單元：車載或機載激光雷達中的SPAD接收器，需通過暗電流測試優(yōu)化探測概率，適應復雜環(huán)境下的弱光信號檢測。

熒光壽命測量儀器：基于SPAD的時間相關單光子計數(shù)系統(tǒng)，暗電流評估有助于提高時間分辨精度，用于生物熒光分析。

天文觀測用光電倍增管：替代傳統(tǒng)光電倍增管的SPAD型探測器，應用于極弱星光探測，檢測范圍包括暗電流與背景噪聲抑制能力。

醫(yī)療內(nèi)窺鏡成像傳感器：集成SPAD的微型化成像探頭，用于低光照醫(yī)學檢查，暗電流檢測保障圖像清晰度和診斷準確性。

工業(yè)無損檢測探頭：基于SPAD的缺陷探測傳感器，用于材料內(nèi)部成像，需控制暗電流以維持高對比度檢測效果。

檢測標準

ASTM E2593-2011《單光子探測器性能測試標準方法》：規(guī)定了單光子探測器包括SPAD的暗電流、探測效率等參數(shù)的測試流程，適用于實驗室環(huán)境下的器件性能比對和驗證。

ISO 18526-2020《光電探測器暗電流測量指南》：國際標準化組織發(fā)布的暗電流測試通用規(guī)范，涵蓋SPAD器件的環(huán)境控制、測量不確定度評估等關鍵要求。

GB/T 20245-2019《單光子 avalanche 二極管測試方法》：中國國家標準中針對SPAD的暗電流和暗計數(shù)率測試方法，明確了儀器精度和測試條件以確保結果可靠性。

IEC 61745-2015《光電二極管暗特性測量程序》：國際電工委員會標準，詳細描述了SPAD等光電二極管在黑暗中的電流-電壓特性測量步驟和數(shù)據(jù)記錄規(guī)范。

GB/T 17626-2018《半導體光子器件可靠性試驗方法》：涵蓋SPAD的長期穩(wěn)定性測試標準，包括暗電流漂移評估，為器件壽命預測提供依據(jù)。

檢測儀器

暗電流測試系統(tǒng)：集成高精度源表、屏蔽箱和溫度控制單元的專用設備，用于在黑暗環(huán)境中測量SPAD的漏電流值，確保低噪聲測量環(huán)境下的數(shù)據(jù)準確性。

低溫恒溫箱：提供可調(diào)節(jié)溫度范圍（如-40°C至100°C）的環(huán)境腔體，用于SPAD溫度依賴性測試，控制熱效應以評估暗電流變化趨勢。

時間相關單光子計數(shù)器：具備皮秒級時間分辨能力的計數(shù)儀器，通過記錄光子到達時間分析SPAD的時間抖動和后脈沖概率，支持高速數(shù)據(jù)采集。

參數(shù)分析儀：多通道電學特性測試設備，可掃描偏置電壓并同步測量暗電流和暗計數(shù)率，用于SPAD工作點優(yōu)化和性能映射。

光學屏蔽暗箱：全封閉式黑暗環(huán)境模擬裝置，內(nèi)部集成光源和探測器夾具，用于SPAD暗電流測量時排除外界光干擾，保證測試條件一致性。

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認信息是否無誤

7、確認完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件